日本日置Hioki镊子探测L2001-日本日置

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●使用方便:可牢固抓握的形状
●难以打破:强度上升
●维护:如果磨损可更换
新形状可以牢固地保持0603尺寸的小芯片部件 日本日置Hioki镊子探测L2001

日本日置Hioki镊子探测L2001-日本日置

镊子探测
L2001

新形状可以牢固地保持0603尺寸的小芯片部件

学术价格目标产品

●使用方便:可牢固抓握的形状 ●难以打破:强度上升 ●维护:如果磨损可更换

  • 日本日置Hioki镊子探测L2001-日本日置

    阻抗分析仪IM7580系列:现场判断功能

     

    通过分析仪模式下的比较器功能,可以检查测量值是否在任意设定的判断区域内。 “现场判断功能”选择任意扫描点和参数,多可判断16个点。

    阻抗分析仪IM7580系列:比较器功能

     

    通过使用比较器功能,您可以检查测量值是否在任意设置的判断区域中。 此功能适用于判断样品质量。

    阻抗分析仪IM7580系列:触点检查功能

     

    您可以使用接触检查功能检查样品和测量端子的接触状态,并检查接触故障和连接状态。

    阻抗分析仪IM7580系列:测试头连接方法

     

    将测试头电缆连接到阻抗分析仪。 拧紧螺母,直到扭矩扳手手柄略微弯曲(0.56 N·m)。 请注意过度拧紧。

  • 阻抗分析仪IM7580系列:峰值判断功能

    日本日置Hioki镊子探测L2001   日本日置Hioki镊子探测L2001

    通过分析仪模式下的比较器功能,可以检查测量值是否在任意设定的判断区域内。 “峰值判断功能”通过上限值,下限值,左限制值,右限制值设置范围,并通过IN / NG显示测量的峰值是否在确定区域中。