日本日置HiokiLCR高测试仪3511-50-日本日置

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●5 ms(1 kHz)/ 13 ms(120 Hz)的高速测量
●内置高速比较器功能,用于线路测量
●测量频率:1 kHz / 120 Hz切换
●从小分辨率0.001 pF(取决于测量频率)到1 F的大容量测量的小测量
日本日置HiokiLCR高测试仪3511-50

日本日置HiokiLCR高测试仪3511-50-日本日置

LCR高测试仪
3511-50

测量频率1kHz / 120Hz LCR表

●5 ms(1 kHz)/ 13 ms(120 Hz)的高速测量 ●内置高速比较器功能,用于线路测量 ●测量频率:1 kHz / 120 Hz切换 ●从小分辨率0.001 pF(取决于测量频率)到1 F的大容量测

日本日置HiokiLCR高测试仪3511-50-日本日置

LCR高测试仪
3511-50

测量频率1kHz / 120Hz LCR表

●5 ms(1 kHz)/ 13 ms(120 Hz)的高速测量 ●内置高速比较器功能,用于线路测量 ●测量频率:1 kHz / 120 Hz切换 ●从小分辨率0.001 pF(取决于测量频率)到1 F的大容量测

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LCR高测试仪
3511-50

测量频率1kHz / 120Hz LCR表

●5 ms(1 kHz)/ 13 ms(120 Hz)的高速测量 ●内置高速比较器功能,用于线路测量 ●测量频率:1 kHz / 120 Hz切换 ●从小分辨率0.001 pF(取决于测量频率)到1 F的大容量测

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LCR高测试仪
3511-50

测量频率1kHz / 120Hz LCR表

●5 ms(1 kHz)/ 13 ms(120 Hz)的高速测量 ●内置高速比较器功能,用于线路测量 ●测量频率:1 kHz / 120 Hz切换 ●从小分辨率0.001 pF(取决于测量频率)到1 F的大容量测

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