日本日置HiokiC计3506-10-日本日置

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●模拟测量时间的高速测量0.6 ms(1 MHz)
●改善了生产线的抗噪性和高重复性
●在1 kHz和1 MHz测量的低容量编带中,可以进行稳定的测量
●能够通过BIN测量进行分类 日本日置HiokiC计3506-10

日本日置HiokiC计3506-10-日本日置

C计
3506-10

测量频率1 MHz / 1 kHz C meter

●模拟测量时间的高速测量0.6 ms(1 MHz) ●改善了生产线的抗噪性和高重复性 ●在1 kHz和1 MHz测量的低容量编带中,可以进行稳定的测量 ●能够通过BIN测量进行分类

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    C计
    3506-10

    测量频率1 MHz / 1 kHz C meter

    ●模拟测量时间的高速测量0.6 ms(1 MHz) ●改善了生产线的抗噪性和高重复性 ●在1 kHz和1 MHz测量的低容量编带中,可以进行稳定的测量 ●能够通过BIN测量进行分类

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    C计
    3506-10

    测量频率1 MHz / 1 kHz C meter

    ●模拟测量时间的高速测量0.6 ms(1 MHz) ●改善了生产线的抗噪性和高重复性 ●在1 kHz和1 MHz测量的低容量编带中,可以进行稳定的测量 ●能够通过BIN测量进行分类

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    C计
    3506-10

    测量频率1 MHz / 1 kHz C meter

    ●模拟测量时间的高速测量0.6 ms(1 MHz) ●改善了生产线的抗噪性和高重复性 ●在1 kHz和1 MHz测量的低容量编带中,可以进行稳定的测量 ●能够通过BIN测量进行分类

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