●基本精度±0.05％和大范围的测量条件（DC和40Hz的至200kHz，为5mV〜5V，10μA〜50毫安配置）
●连续执行CD（120 Hz）和ESR（100 kHz）等不同测量时，整体测量速度提高到约1/10（与3532-50相比）
●配备比较器，BIN测量（分类功能）※IM3523 / 3533通用
●日本日置HiokiLCR仪表IM3523

LCR仪表
IM3523

适用于电子零件生产线和自动机

学术价格目标产品

●基本精度±0.05％和大范围的测量条件（DC和40Hz的至200kHz，为5mV〜5V，10μA〜50毫安配置） ●连续执行CD（120 Hz）和ESR（100 kHz）等不同测量时，整体测量速度提高到约1/10（与3532-50相比） ●配备比较器，BIN测量（分类功能）※IM3523 / 3533通用 ●测量时间2 ms的高速测量※IM3523 / 3533通用

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LCR仪表IM3523测量方法：连续测量不同条件

我想在电容器的测量条件下以120 Hz进行CD测量。我想测量100 kHz的ESR。此时，一个单元可以连续高速测量不同的条件。

LCR仪表IM3523测量方法：平滑面板设置改变生产线，面板负载功能

需要进行有效的设置更改，以便使用一台LCR仪表支持多种产品。 IM 3523的面板保存功能可以保存多达60个测量条件和128个校正值，如开路/短路校正和电缆长度校正。可以读取面板加载功能保存的测量条件。除手动装载外，外部控制终端还可控制面板数量加载，从而加快检测线的自动化施工。

生产线检查的可靠性：接触检查功能

在4端子测量期间检测样品之间的接触故障 测量LPOT和LCUR之间以及HPOT和HCUR之间的接触电阻，如果超过设定的阈值则显示错误。

申请指南

您可以看到示例应用程序的下载和通信命令的说明。

LCR仪表应用在这里

精度计算软件指导

只需输入一个数字，即可轻松计算精度。

LCR仪表精度计算软件就在这里 日本日置HiokiLCR仪表IM3523  日本日置HiokiLCR仪表IM3523